Рентгенография микро- и нано-объектов
Рентгеновский теневой микроскоп
Состоит из оснастки для монтажа и юстировки сферически изогнутых кристаллов кварца и слюды, используемых для построения теневых изображений плазменных и твердотельных объектов в диапазоне длин волн зондирующего излучения от 1 до 20 ангстрем.
Для задач по рентгеновской микроскопии с субмикронным разрешением в качестве детекторов рентгеновского излучения используются кристаллы LiF.
